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Ausschreibung: Mikroskope - DE-Bonn
Mikroskope
Dokument Nr...: 153955-2017 (ID: 2017042509042077428)
Veröffentlicht: 25.04.2017
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DE-Bonn: Mikroskope
2017/S 80/2017 153955
Auftragsbekanntmachung
Lieferauftrag
Richtlinie 2014/24/EU
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
I.1)Name und Adressen
Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
Kennedyallee 40
Bonn
53175
Deutschland
Kontaktstelle(n): Deutsche Forschungsgemeinschaft
Telefon: +49 2288852474
E-Mail: [1]Ute.Breuer@dfg.de
Fax: +49 2288853676
NUTS-Code: DEA22
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: [2]www.dfg.de
I.2)Gemeinsame Beschaffung
I.3)Kommunikation
Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
[3]http://www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_be
schaffungsstelle/index.html
Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
Kontaktstellen
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: e. V.
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Forschungsförderung
Abschnitt II: Gegenstand
II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
Lieferung eines Rasterkraftmikroskops.
Referenznummer der Bekanntmachung: SFB 1249/2017 (A 740)
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
38510000
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:
Es soll ein Rasterkraftmikroskop zur Bestimmung intrinsischer
Ladungsträgermobilitäten in hochgeordneten, selbstorganisierenden
Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle (OSCs) angeschafft
werden. Neben der Messung kleinster Ströme (HR-CAFM bis in
Sub-100-fA-Bereich) mit hoher lateraler Auflösung unter Schutzgas soll
das AFM auch zur lithographischen, elektrochemisch-gestützten
Herstellung zweidimensionaler, hochgeordneter SAMs mit definierter
Größe und Form in ethanolischem bzw. wässrigem Medium bis hinunter in
den Sub-µm- bzw. den nm-Bereich genutzt werden. Dabei wird die
AFM-Spitze als Lithographiewerkzeug verwendet und das elektrische Feld
zur Herstellung der SAMs in einer elektrochemischen Flüssigzelle
erzeugt. Die Datenerfassung (Strommessung, Materialkontrastdarstellung,
Topographie) muss in einem Modus erfolgen, in dem eine kleinstmögliche,
jedoch kontrollierbare mechanische Wechselwirkung der SAMs bzw.
SAM-Moleküle mit der rasternden AFM-Spitze gewährleistet ist.
II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DE12
Hauptort der Ausführung:
Karlsruhe.
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
Das anzuschaffende Rasterkraftmikroskop soll als Tip-Scanner ausgelegt
sein. Es muss eine minimale Drift des Scanners in xy-Richtung sowie ein
minimales Rauschen in z-Richtung gewährleistet sein. Das Gerät soll in
erster Linie der hochpräzisen Bestimmung von Leitfähigkeiten (sowohl im
Kontakt-Modus, als auch im nicht-resonant oszillierenden
Abbildungsmodus) von hochgeordneten, selbstorganisierenden,
zweidimensionalen Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle
(OSCs) dienen. Diese leitfähigen SAM Inseln sollen in einer
zweidimensionalen Matrix aus isolierenden Molekülen mittels der sog.
Nanografting- bzw. Nanoshaving-Technik erzeugt werden, wobei die
Position, Form und Größe der Inseln exakt definiert werden können. Dazu
muss die AFM-Spitze mittels einer integrierten Lithographie-Software in
einer mit ethanolischen oder wässrigen Lösungen gefüllten
Perfusionszelle über die Oberfläche des Substrates geführt werden. Die
Perfusionszelle muss dabei so beschaffen sein, dass die Erzeugung der
hochgeordneten SAM-Inseln unter Zuhilfenahme eines elektrischen Feldes
erfolgen kann (Elektrochemiezelle) und die anschließende hochpräzise
Strommessung (nach dem Spülen und Trocknen) in der gleichen Zelle auch
unter Schutzgas möglich ist.
Um während der Strommessung die mechanische Wechselwirkung zwischen
AFM-Spitze und den SAMs zu minimieren, ist die Anwendung eines
oszillierenden Abbildungsmodus notwendig. Dabei soll in jedem
Abtastzyklus zur Leitfähigkeitsmessung eine direkte Bestimmung der
Abbildungskraft in Echtzeit (sowohl in Gasatmosphäre als auch in
Flüssigkeit) erfolgen, worauf alle Abbildungsparameter automatisch und
kontinuierlich optimiert werden. Die Anzahl der pro Zeiteinheit in
diesem Modus erreichbaren Datenpunkte soll möglichst hoch sein ohne
dabei an Messgenauigkeit (insbesondere Leitfähigkeit) zu verlieren.
Mögliche Einflüsse wie z. B. die Änderung des Deflection Signals
aufgrund von Cantileverdrift sollen automatisch und kontinuierlich
eliminiert werden können. Um den Ladungstransport auf Bereichen mit
sehr geringer Leitfähigkeit neben Bereichen mit höherer Leitfähigkeit
auch quantitativ untersuchen zu können, muss das anzuschaffende AFM
technisch die Möglichkeit bieten - ohne Änderung der Position der
AFM-Spitze relativ zum Substrat - einen breiten Strombereich in ein und
demselben Scanfeld gegebenenfalls mit unterschiedlichen
Vorverstärkerstufen abzudecken und darzustellen, ohne dass dabei
Umbaumaßnahmen erforderlich sind oder die Empfindlichkeit für Messungen
sehr kleiner Ströme leidet.
Für die spätere Wiederfindung und das Treffen von erzeugten
Strukturen mit der AFM-Spitze ist (a) eine optische Live-Beobachtung
(z. B. durch ein Mikroskop) sowie die Dokumentation (Aufnahme von
Bildern mittels Kamera) der Position der AFM-Spitze relativ zur
Substratoberfläche mit guter optischer Auflösung und großem
Gesichtsfeld notwendig, bzw. (b) eine strikt vertikale Annäherung der
Spitze an das Substrat erforderlich. Zur Identifizierung von
Oberflächenbereichen oder SAMs mit unterschiedlichen Eigenschaften,
werden nicht nur Leitfähigkeitsmessungen herangezogen, es sollen zudem
komplementär und gleichzeitig auch Materialkontraste (Elastizität,
Adhäsion, Reibung, Topographie) untersucht und simultan (Ort und Zeit)
darstellbar sein. Eine motorisierte, freie Probenpositionierung muss
vorhanden sein, ebenso die Möglichkeit, verschiedene Bereiche auf der
Probe software-seitig vorzudefinieren, die dann automatisch von der
AFM-Spitze angesteuert und untersucht werden. Ein xy-Scanbereich, der
die Abbildung auch mehrerer Strukturen mit Dimensionen um die 10 µm
ermöglicht, muss verfügbar sein. Das angebotene Gerät muss die Option
zur Integration einer Temperatureinheit beinhalten, mit der das Gerät
nachträglich ohne Umbaumaßnahmen oder Einschränkungen der Nutzbarkeit
aufgerüstet werden kann. Die Bauweise des AFM muss offen gestaltet
sein, sodass auch eigene experimentelle Aufbauten in das System
integriert werden können.
Jeder Anbieter muss auf Wunsch durch Messungen an Referenzproben des
Endnutzers nachweisen, dass er die geforderten Spezifikationen erfüllt.
II.2.5)Zuschlagskriterien
Die nachstehenden Kriterien
Qualitätskriterium - Name: Technischer Wert / Gewichtung: 50
Preis - Gewichtung: 50
II.2.6)Geschätzter Wert
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Laufzeit in Monaten: 3
Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
II.2.9)Angabe zur Beschränkung der Zahl der Bewerber, die zur
Angebotsabgabe bzw. Teilnahme aufgefordert werden
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
Varianten/Alternativangebote sind zulässig: ja
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben
Zu II.2.7): Es handelt sich um einen einmaligen Lieferauftrag ohne
Laufzeiten, das Formular erfordert in diesem Feld jedoch eine Eingabe.
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
Angaben
III.1)Teilnahmebedingungen
III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
III.2)Bedingungen für den Auftrag
III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen
unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.
III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
Abschnitt IV: Verfahren
IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Verhandlungsverfahren
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
Beschaffungssystem
IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder
Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs
IV.1.5)Angaben zur Verhandlung
IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
Tag: 24/05/2017
IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
Tag: 31/05/2017
IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
eingereicht werden können:
Deutsch
IV.2.6)Bindefrist des Angebots
IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
Abschnitt VI: Weitere Angaben
VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
VI.3)Zusätzliche Angaben:
Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. II.1.1)) ist bei sämtlicher
Korrespondenz anzugeben.
Die vollständigen Unterlagen für den Teilnahmewettbewerb sind hier
veröffentlicht. Weitergehende Auftragsunterlagen werden mit der
Angebotsaufforderung nach dem Schlusstermin für Teilnahmeanträge
versendet.
Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.2.2) handelt es sich um den
Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den
Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff.
IV.2.2) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.
VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Vergabekammer des Bundes
Villemomber Straße 76
Bonn
53123
Deutschland
VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie
zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu
informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer
festgelegten Frist vor der Vergabekammer des Bundes, Villemombler Str.
76, 53123 Bonn zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten
wir eine entsprechende Information.
VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
erteilt
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
24/04/2017
References
1. mailto:Ute.Breuer@dfg.de?subject=TED
2. http://www.dfg.de/
3. http://www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_beschaffungsstelle/index.html
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The Office for Official Publications of the European Communities
The Federal Office of Foreign Trade Information
Phone: +49 6082-910101, Fax: +49 6082-910200, URL: http://www.icc-hofmann.de
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